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Robin Rehrmann; Carsten Binnig; Alexander Böhm; Kihong Kim; Wolfgang Lehner
In: Proceedings of the VLDB Endowment (PVLDB), Vol. 13, No. 10, Pages 1696-1708, Association for Computing Machinery (ACM), 2020.
Benjamin Hilprecht; Andreas Schmidt; Moritz Kulessa; Alejandro Molina; Kristian Kersting; Carsten Binnig
In: Proceedings of the VLDB Endowment (PVLDB), Vol. 13, No. 7, Pages 992-1005, Association for Computing Machinery (ACM), 2020.
Sounak Kar; Robin Rehrmann; Arpan Mukhopadhyay; Bastian Alt; Florin Ciucu; Heinz Koeppl; Carsten Binnig; Amr Rizk
In: Performance Evaluation, Vol. 144, Pages 0-10, Elsevier, 2020.
Nathaniel Weir; Prasetya Utama; Alex Galakatos; Andrew Crotty; Amir Ilkhechi; Shekar Ramaswamy; Rohin Bhushan; Nadja Geisler; Benjamin Hättasch; Steffen Eger; Ugur Çetintemel; Carsten Binnig
In: David Maier; Rachel Pottinger; AnHai Doan; Wang-Chiew Tan; Abdussalam Alawini; Hung Q. Ngo (Hrsg.). Proceedings of the 2020 International …
Tiemo Bang; Ismail Oukid; Norman May; Ilia Petrov; Carsten Binnig
Leilani Battle; Philipp Eichmann; Marco Angelini; Tiziana Catarci; Giuseppe Santucci; Yukun Zheng; Carsten Binnig; Jean-Daniel Fekete; Dominik Moritz
Philipp Eichmann; Emanuel Zgraggen; Carsten Binnig; Tim Kraska
Filipe Veiga; Benoni B. Edin; Jan Peters
In: Sensors - Open Access Journal (Sensors), Vol. 20, No. 6, Pages 0-10, MDPI, 2020.
Badarinath Katti; Christiane Plociennik; Martin Ruskowski; Michael Schweitzer
In: Procedia Manufacturing, Vol. 42, Pages 197-204, Elsevier, 2020.
Payam Habiby; Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
In: 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 2020. IEEE International Symposium on Defect …
