Aufgrund von Wartungsarbeiten ist die Suche von Publikationen nach Autor:innen derzeit nicht möglich.
Patrick Stadler; Vanshika Bawa
In: Markus Stolze; Frieder Loch; Matthias Baldauf; Florian Alt; Christina Schneegass; Thomas Kosch; Teresa Hirzle; Shadan Sadeghian; Fiona Draxler; …
Miles Al Mehdawi; Tobias Dreesbach; Henning Gösling; Marcel Brinkmann
In: Milad Mirbabaie (Hrsg.). Wirtschaftsinformatik 2023 Proceedings. Internationale Tagung Wirtschaftsinformatik (WI-2023), September 18-21, …
Brian Moser; Stanislav Frolov; Federico Raue; Sebastian Palacio; Andreas Dengel
In: Artificial Neural Networks and Machine Learning ICANN 2023. International Conference on Artificial Neural Networks (ICANN-2023), International …
Dennis Maecker; Henning Gösling; Christoph Heinbach; Friedemann Kammler
In: Milad Mirbabaie (Hrsg.). Wirtschaftsinformatik 2023 Proceedings. Internationale Tagung Wirtschaftsinformatik (WI-2023), 18. Internationale Tagung …
Hongyang Chang; Hongfei Xu; Josef van Genabith; Deyi Xiong; Hongying Zan
In: IEEE Transactions on Audio, Speech and Language Processing (IEEE TASL), Vol. 28, Pages x-x, 2023.
Khurram Azeem Hashmi; Goutham Kallempudi; Didier Stricker; Muhammad Zeshan Afzal
In: International Conference on Computer Vision. International Conference on Computer Vision (ICCV-2023), October 2-6, Paris, France, IEEE, 10/2023.
Amr Gomaa; Michael Feld
In: AI & HCI Workshop at the 40th International Conference on Machine Learning (ICML). AI&HCI Workshop @ ICML, located at icml, July 29, Honolulu, …
Théo Vincent; Boris Belousov; Carlo D'Eramo; Jan Peters (Hrsg.)
European Workshop on Reinforcement Learning (EWRL-2023), European Workshop on Reinforcement Learning, 2023.
Shangding Gu; Alap Kshirsagar; Yali Du; Guang Chen; Yaodong Yang; Jan Peters; Alois C. Knoll
In: Computing Research Repository eprint Journal (CoRR), Vol. abs/2302.13137, Pages 0-10, arXiv, 2023.
Piotr Kicki; Puze Liu; Davide Tateo; Haitham Bou-Ammar; Krzysztof Walas; Piotr Skrzypczynski; Jan Peters
In: IEEE Transactions on Robotics (T-RO), Vol. abs/2301.04330, Pages 0-10, IEEE, 2023.
