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In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2022) February 27-March 1 Bremerhaven Germany 2022.
Zur PublikationIn: Dr. M. Hashimoto (Hrsg.). Microelectronics Reliability Seiten 01-11 Elsevier 2022.
Zur PublikationIn: 16th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS). International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS-2021) June 28-30 Apulia/Virtual Italy 2021.
Zur PublikationDeutsches Forschungszentrum für
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