Publikation

Power-aware Test Scheduling Framework for IEEE 1687 Multi-Power Domain Networks using Formal Techniques

Payam Habiby, Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

In: Dr. M. Hashimoto (Hrsg.). Microelectronics Reliability Seiten 01-11 Elsevier 2022.

Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz
German Research Center for Artificial Intelligence