In: 30. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von …
In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD), Vol. 37, No. 7, Pages 1422-1435, IEEE, 2018.
Philipp Beckerle; Risto Kõiva; Elsa Andrea Kirchner; Robin Bekrater-Bodmann; Strahinja Dosen; Oliver Christ; David A. Abbink; Claudio Castellini; Bigna Lenggenhager