Leichtgewichtige Datenkompressions-Architektur für IEEE-1149.1-kompatible Testschnittstellen

@inproceedings{pub8182,
    author = {

Huhn, Sebastian
 and 

Eggersglüß, Stephan
 and 

Drechsler, Rolf
},
    title = {Leichtgewichtige Datenkompressions-Architektur für IEEE-1149.1-kompatible Testschnittstellen},
    booktitle = {28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-28), March 6-8, Siegen, Germany},
    year = {2016}
}